Misuratore di stress superficiale del vetro serie JF-4

Breve descrizione:

Il misuratore di sollecitazione superficiale del vetro serie JF-4 è stato sviluppato per misurare automaticamente la sollecitazione superficiale del vetro temprato chimicamente e termicamente. È dotato di un computer (PC) che riduce gli errori di misurazione dovuti all'operatore. Inoltre, i complessi calcoli necessari per determinare la sollecitazione di compressione superficiale, la profondità dello strato e la sollecitazione di trazione centrale del vetro temprato vengono risolti rapidamente grazie all'effetto guida d'onda ottico. La memorizzazione diretta dei dati nella memoria del PC semplifica il controllo qualità.


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Applicazione

È stato ampiamente utilizzato nel controllo qualità dei pannelli in vetro per telefoni, dei pannelli LCD e di altri pannelli in vetro temperato chimicamente. Tuttavia, lo strumento non può essere applicato al vetro temperato chimicamente prodotto mediante scambio ionico (Li+ nel vetro) e (Na+ in bagno di sale) e al vetro fotocromico temperato chimicamente.

Può essere personalizzato in base alle esigenze. Software di recente rilascio con funzionalità adatte al vetro a doppio scambio ionico, visualizzazione della distribuzione delle sollecitazioni, continuazione automatica della misurazione, continuazione automatica della registrazione in file CSV ed esportazione del report.

Software

Il software è progettato per interagire con il misuratore di sollecitazione superficiale del vetro e può essere utilizzato tramite computer. Grazie a questo software, è possibile effettuare misurazioni singole e continue della sollecitazione superficiale del vetro, analizzare la distribuzione delle sollecitazioni (solo per vetri temperati chimicamente), registrare i dati e stampare i report direttamente sul computer.

È possibile impostare contemporaneamente parametri e altre funzioni. La risoluzione del monitor del computer deve essere di almeno 1280*1024 pixel.

Specifiche

Precisione: 20 MPa

Intervallo: 1000 MPa/1500 MPa

Profondità: 5~50 µm/10~100 µm/10~200 µm

Sistema operativo: Windows 7 32 bit / Windows 64 bit

Lunghezza d'onda della sorgente luminosa: 355 nm/595 nm/790 nm ± 10 nm

Misuratore di stress superficiale JF-4 (apparecchiatura)
Misuratore di stress superficiale JF-4 (apparecchiatura)2 (1)
Misuratore di stress superficiale JF-4 (apparecchiatura)2 (2)

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