Misuratore di stress superficiale in vetro serie JF-4

Breve descrizione:

Il misuratore di stress superficiale in vetro serie JF-4 è sviluppato per misurare automaticamente lo stress superficiale del vetro temperato chimicamente e termicamente. È dotato di un computer (PC) che riduce gli errori di misurazione avvenuti da ciascun operatore. Inoltre, i calcoli complessi richiesti per calcolare lo stress da compressione superficiale e la profondità dello strato e lo stress da tensione centrale per il vetro temperato vengono rapidamente risolti utilizzando l'effetto guida d'onda ottica. La memorizzazione dei dati nella memoria del PC facilita direttamente il controllo della qualità.


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Applicazione

È stato ampiamente utilizzato nel controllo di qualità del pannello in vetro del telefono, del pannello LCD e di altri pannelli in vetro temperato chimicamente. Lo strumento, tuttavia, non può essere applicato al vetro temperato chimicamente prodotto tramite scambio ionico (Li+ nel vetro) e (Na+ nel bagno di sale) e al vetro fotocromatico temperato chimicamente.

Può essere personalizzato in base alle esigenze. Software appena rilasciato con funzionalità adatte al vetro a doppio scambio ionico, che mostra la distribuzione dello stress, la misurazione continua automaticamente, continua automaticamente la registrazione nel file CSV ed esporta il report.

Software

Il software deve cooperare con il misuratore di stress della superficie del vetro da utilizzare sul computer. Utilizzando questo software, è possibile completare sul computer la misurazione singola e continua della sollecitazione della superficie del vetro, l'ispezione della distribuzione della sollecitazione (solo vetro temperato chimico), la registrazione e la stampa dei rapporti.

È possibile impostare parametri e altre funzioni contemporaneamente. La risoluzione dei monitor dei computer deve essere 1280*1024 pixel o superiore.

Specifica

Precisione: 20 MPa

Gamma: 1000MPa/1500MPa

Profondità: 5~50um/10~100um/10~200um

Sistema operativo: Windows 7 a 32 bit / Windows 64 bit

Lunghezza d'onda della sorgente luminosa: 355 nm/595 nm/790 nm ± 10 nm

Misuratore di stress superficiale JF-4 (attrezzatura)
Misuratore di stress superficiale JF-4 (attrezzatura)2 (1)
Misuratore di stress superficiale JF-4 (attrezzatura)2 (2)

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